Испытания материалов для полупроводниковой технологии. Анализ поверхности кремниевых пластин посредством мультиэлементного определения в водных анализируемых растворах методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой - код din DIN 51456-2013.

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2013-10-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology - Surface analysis of silicon wafers by multielement determination in aqueous analysis solutions using mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
Код: DIN 51456-2013
Код МКС: 31.200
Количество страниц оригинала: 15
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Интегральные схемы. Микроэлектроника
Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Микропроцессоры см. 35.160


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация