Кремний для полупроводниковых приборов. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в прямоугольном образце монокристалла методом фотопроводимости - код din DIN 50440-1-1981.

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 1981-11-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology; measurement of recombination carrier lifetime in silicon single crystals by means of photo conductive decay method; measurement on bar-shaped specimens
Код: DIN 50440-1-1981
Код МКС: 29.045
Количество страниц оригинала: 5
Обозначение заменяющего: DIN 50440(1998.11)
Вид требований: ST*N
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Полупроводниковые материалы


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация