Кремний для полупроводниковых приборов. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в прямоугольном образце монокристалла методом фотопроводимости- DIN 50440-1-1981. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 1981-11-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology; measurement of recombination carrier lifetime in silicon single crystals by means of photo conductive decay method; measurement on bar-shaped specimens
Код: DIN 50440-1-1981
Код МКС: 29.045
Количество страниц оригинала: 5
Обозначение заменяющего: DIN 50440(1998.11)
Вид требований: ST*N
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Полупроводниковые материалы

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN 50438-1-1995 - Материалы полупроводниковые. Определение содержания примесей в кремнии методом инфракрасной абсорбции. Часть 1. Кислород
DIN 50438-2-1982 - Материалы полупроводниковые. Определение содержания примесей в кремнии методом инфракрасной абсорбции. Углерод
DIN 50438-3-1984 - Кремний для полупроводниковых приборов. Определение содержания загрязняющего бора и фосфора методом инфракрасной абсорбции
DIN 50438-3-2000 - Кремний для полупроводниковых приборов. Определение содержания загрязняющего бора и фосфора методом инфракрасной асборбции
DIN 50439-1982 - Материалы полупроводниковые на основе кремния или арсения-галия. Определение профиля концентраций примесей методом напряжения на емкости и ртутного контакта
DIN 50440-1998 - Материалы для полупроводниковой технологии. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в монокристаллах кремния при незначительной инжекции методом фотопроводимости