Материалы для полупроводниковой технологии. Определение дефектов монокристаллов кремния при помощи техники травления на поверхности (111) и (100)- DIN 50434-1986. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 1986-02-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology; detection of crystal defects in monocrystalline silicon using etching techniques on {111} and {100} surfaces
Код: DIN 50434-1986
Код МКС: 29.045
Количество страниц оригинала: 9
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Полупроводниковые материалы

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN 50430-1980 - Монокристаллы стержнеобразные кремниевые и германиевые.Измерение удельного электрического сопротивления постоянному току методом двух зондов
DIN 50431-1988 - Монокристаллы кремниевые и германиевые. Измерение удельного электрического сопротивления постоянному току методом четырех зондов при их линейном расположении
DIN 50432-1980 - Кремний и германий.Определение типа проводимости образцов методом термодетектора или испытанием выпрямлением
DIN 50433-1-1976 - Материалы полупроводниковые неорганические. Определение ориентации монокристаллов при помощи рентгенографии
DIN 50433-2-1976 - Материалы полупроводниковые неорганические. Определение ориентации монокристаллов методом световых фигур
DIN 50433-3-1982 - Материалы для полупроводниковой технологии. Определение ориентации монокристаллов методом обратного рассеяния Laue