Материалы для полупроводниковой технологии. Определение скорости травления травильных смесей. Покрытие из диоксида кремния, оптический метод- DIN 50453-2-1990. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 1990-10-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium-dioxid coating; optical method
Код: DIN 50453-2-1990
Код МКС: 29.045
Количество страниц оригинала: 2
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Полупроводниковые материалы

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN 50451-7-2018 - Испытания материалов для полупроводниковых технологий. Определение следовых элементов в жидкостях. Часть 7. Определение 31 элемента в соляной кислоте высокой чистоты методом ИСП-МС
DIN 50452-1-1995 - Жидкости для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа. Часть 1. Микроскопический метод
DIN 50452-2-1991 - Жидкости для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа. Определение с применением оптического счетчика
DIN 50452-2-2009 - Испытания материалов для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа в жидкотях. Часть 2. Определение частиц с применением оптических счетчиков
DIN 50452-3-1995 - Жидкости для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа. Часть 3. Калибровка оптических счетчиков частиц
DIN 50453-1-1990 - Материалы для полупроводниковой технологии. Определение скорости травления травильных смесей. Монокристаллы кремния, гравиметрический метод