Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид - код din DIN EN 62417-2010.

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2010-12-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010); German version EN 62417:2010
Код: DIN EN 62417-2010
Код МКС: 31.200
Количество страниц оригинала: 9
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Интегральные схемы. Микроэлектроника
Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Микропроцессоры см. 35.160


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация