Расшифровка стандарта
Дата публикации: 2012-06-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures (IEC 62047-12:2011); German version EN 62047-12:2011
Код: DIN EN 62047-12-2012
Код МКС: 31.080.01*31.220.01
Количество страниц оригинала: 31
Вид требований: ST
Рубрикатор: ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Электромеханические компоненты электронного оборудования и телекоммуникационного оборудования Электромеханические компоненты в целом
Ссылка на официальную страницу:
РегистрацияХотите купить товар?
Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке
Опубликовать тендер
Хотите продать товар?
Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.
Регистрация