Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001) - код din DIN EN 60749-2002.

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2002-09-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001
Код: DIN EN 60749-2002
Код МКС: 31.080.01
Количество страниц оригинала: 74
Обозначение заменяющего: DIN EN 60749-1(2003-12)*DIN EN 60749-2(2003-04)*DIN EN 60749-3(2003-04)*DIN EN 60749-4(2003-04)*DIN EN 60749-5(2003-09)*DIN EN 60749-6(2003-04)*DIN EN 60749-7(2003-04)*DIN EN 60749-8(2003-12)*DIN EN 60749-9(2003-04)*DIN EN 60749-10(2003-04)*DIN EN 60749-1
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые материалы см. 29.045 Полупроводниковые приборы в целом


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация