Перечень кодов DIN - европейского немецкого стандарта.

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влажности и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемах - код din DIN EN 60749-39-2007.


Поделиться

Расшифровка стандарта



Дата публикации: 2007-01-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components (IEC 60749-39:2006); German version EN 60749-39:2006
Код: DIN EN 60749-39-2007
Код МКС: 31.240
Количество страниц оригинала: 10
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Механические конструкции электронного оборудования


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация


Другие коды стандарта DIN

DIN EN 60749-34-2004 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности
DIN EN 60749-34-2011 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Маневренный режим мощности
DIN EN 60749-35-2007 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке
DIN EN 60749-36-2003 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 36. Ускорение, устойчивое состояние
DIN EN 60749-37-2008 - Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра
DIN EN 60749-38-2008 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью




Copyright © 2008-2025, TenderGURU
Все права защищены. Полное или частичное копирование запрещено.
При согласованном использовании материалов сайта TenderGURU.ru необходима гиперссылка на ресурс.
Электронная почта: info@tenderguru.ru
Многоканальный телефон 8-800-555-89-39
с любого телефона из любого региона для Вас звонок бесплатный!

Портал отображает информацию о закупках, публикуемых в сети интернет
и находящихся в открытом доступе, и предназначен для юрлиц и индивидуальных предпринимателей,
являющихся участниками размещения государственного и коммерческого заказа.
Сайт использует Cookie, которые нужны для авторизации пользователя.
На сайте стоят счетчики Яндекс.Метрика, Google Analytics и LiveInternet,
которые нужны для статистики посещения ресурса.

Политика обработки персональных данных tenderguru.ru