Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности - код din DIN EN 60749-5-2003.

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2003-09-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003
Код: DIN EN 60749-5-2003
Код МКС: 31.080.01
Количество страниц оригинала: 10
Обозначение заменяющего: DIN EN 60749-5(2018-01)
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые материалы см. 29.045 Полупроводниковые приборы в целом


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация