Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировки- DIN EN 60749-9-2017. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2017-11-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017); German version EN 60749-9:2017
Код: DIN EN 60749-9-2017
Код МКС: 31.080.01
Количество страниц оригинала: 10
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые материалы см. 29.045 Полупроводниковые приборы в целом

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN EN 60749-6-2003 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре
DIN EN 60749-6-2017 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре
DIN EN 60749-7-2003 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
DIN EN 60749-7-2012 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
DIN EN 60749-8-2003 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность
DIN EN 60749-9-2003 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировки