Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных помех методом прямого соединения 1 Ом/150 Ом. Поправка к DIN EN 61967-4:2006-07, (IEC 61967-4:2002/COR1:2017) - код din DIN EN 61967-4 Berichtigung 2-2017.

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2017-10-01
Заглавие на английском языке: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002 + A1:2006); German version EN 61967-4:2002 + A1:2006, Corrigendum to DIN EN 61967-4:2006-07, (IEC 61967-4:2002/COR1:2017); German version EN 61967-4:2002/AC:2017-07
Код: DIN EN 61967-4 Berichtigung 2-2017
Код МКС: 31.200
Количество страниц оригинала: 4
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Интегральные схемы. Микроэлектроника
Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Микропроцессоры см. 35.160


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация