Расшифровка стандарта
Дата публикации: 1985-08-01
Заглавие на английском языке: Harmonized system of quality assessment for electronic components; basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice
Код: DIN 45903*CECC 00013-1985
Код МКС: 31.200
Количество страниц оригинала: 24
Вид требований: ST*N
Рубрикатор: ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Интегральные схемы. Микроэлектроника
Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Микропроцессоры см. 35.160
Ссылка на официальную страницу:
РегистрацияХотите купить товар?
Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке
Опубликовать тендер
Хотите продать товар?
Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.
Регистрация