Согласованная система оценки качества электронных изделий. Схемы цифровые интегральные ТТL серий 54, 64, 74, 84. Серийные технические условия- DIN 45940-1101*CECC 90101-1983. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 1983-05-01
Заглавие на английском языке: Harmonized system of quality assessment for electronic components; family specification: digital integrated TTL-circuits, series 54, 64, 74, 84
Код: DIN 45940-1101*CECC 90101-1983
Код МКС: 31.200
Количество страниц оригинала: 23
Обозначение заменяющего: DIN EN 190101(1996.11)
Вид требований: ST*N
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Интегральные схемы. Микроэлектроника
Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Микропроцессоры см. 35.160

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN 45930-1023*CECC 50012-1983 - Согласованная система оценки качества электронных изделий. Полевые транзисторы с затвором. Типовая форма частных технических условий
DIN 45930-1027*CECC 50013-1985 - Согласованная система оценки качества электронных изделий. Стабилизаторы тока и опорные диоды. Типовая форма частных технических условий
DIN 45939-1-1983 - Согласованная система оценки качества электронных изделий. Полупроводниковые оптоэлектронные приборы и приборы на жидких кристаллах. Общие технические условия
DIN 45939-1002*CECC 20002-1988 - Согласованная система оценки качества электронных изделий. Диоды и матрицы диодов инфракрасного излучения. Типовые формы частных технических условий
DIN 45939-1004*CECC 20004-1987 - Согласованная система оценки качества электронных изделий. Оптроны, зависящие от окружающих условий. Типовые формы частных технических условий
DIN 45940-12*CECC 90200-1985 - Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Аналоговые интегральные схемы. Групповые технические условия