Материалы для полупроводниковой технологии. Определение скорости травления травильных смесей. Часть 3. Алюминий, гравиметрический метод- DIN 50453-3-2001. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2001-04-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 3: Aluminium, gravimetric method
Код: DIN 50453-3-2001
Код МКС: 29.045
Количество страниц оригинала: 4
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Полупроводниковые материалы

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN 50452-1-1995 - Жидкости для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа. Часть 1. Микроскопический метод
DIN 50452-2-1991 - Жидкости для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа. Определение с применением оптического счетчика
DIN 50452-2-2009 - Испытания материалов для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа в жидкотях. Часть 2. Определение частиц с применением оптических счетчиков
DIN 50452-3-1995 - Жидкости для полупроводниковой технологии. Метод гранулометрического анализа. Часть 3. Калибровка оптических счетчиков частиц
DIN 50453-1-1990 - Материалы для полупроводниковой технологии. Определение скорости травления травильных смесей. Монокристаллы кремния, гравиметрический метод
DIN 50453-2-1990 - Материалы для полупроводниковой технологии. Определение скорости травления травильных смесей. Покрытие из диоксида кремния, оптический метод