Материалы полупроводниковые. Определение содержания примесей методом абсорбции инфракрасного излучения. Часть 2. Бор в арсениде галлия- DIN 50449-2-1998. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 1998-01-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 2: Boron in gallium arsenide
Код: DIN 50449-2-1998
Код МКС: 29.045
Количество страниц оригинала: 4
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Полупроводниковые материалы

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN 50443-2-1994 - Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии
DIN 50445-1992 - Пластины полупроводниковые гомогенные, легированные примесью. Бесконтактный метод определения удельного электрического сопротивления с помощью вихревых токов
DIN 50446-1995 - Материалы для полупроводниковой технологии. Определение типов и плотности дефектов в эпитаксиальных слоях кремния
DIN 50447-1995 - Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение электрического поверхностного сопротивления полупроводниковых слоев методом вихревых токов
DIN 50448-1998 - Материалы для полупроводниковой технологии. Бесконтактное измерение удельного электрического сопротивления полуизолированных полупроводниковых дисков с емкостным зондом
DIN 50449-1-1997 - Материалы полупроводниковые. Определение содержания примесей методом абсорбции инфракрасного излучения. Часть 1. Углерод в арсениде галлия