Полупроводники сложные Ш-V. Определение дефектов и неоднородности монокристаллов с помощью рентгенографии- DIN 50443-2-1994. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 1994-06-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds
Код: DIN 50443-2-1994
Код МКС: 29.045
Количество страниц оригинала: 7
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Полупроводниковые материалы

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN 50441-3-1985 - Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Определение отклонения от плоскостности полированных пластин методом многолучевой интерференции
DIN 50441-4-1987 - Диски полупроводниковые. Измерение диаметра и толщины
DIN 50441-4-1999 - Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров. Часть 4. Определение диаметра, отклонений диаметра, диаметра, длины и высоты плоского среза
DIN 50441-5-2001 - Пластины полупроводниковые. Определение геометрических размеров.Часть 5. Термины, касающиеся отклонения от формы и плоскостности
DIN 50442-1-1981 - Пластины полупроводниковые монокристаллические, распиленные и подвергнутые доводке. Определение структуры поверхности
DIN 50443-1-1988 - Кремний для изготовления полупроводников. Определение дефектов и неоднородности кристаллов с помощью рентгенотопографии