Расшифровка стандарта
Дата публикации: 1999-03-01
Заглавие на английском языке: Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 4: Slice diameter, diamter variation, flat diameter, flat length, flat depth
Код: DIN 50441-4-1999
Код МКС: 29.045
Количество страниц оригинала: 8
Вид требований: ST
Рубрикатор: ОКС ЭЛЕКТРОТЕХНИКА Полупроводниковые материалы
Ссылка на официальную страницу:
РегистрацияХотите купить товар?
Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке
Опубликовать тендер
Хотите продать товар?
Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.
Регистрация