Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации - код din DIN EN 62418-2010.

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2010-12-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010); German version EN 62418:2010
Код: DIN EN 62418-2010
Код МКС: 25.220.40*31.080.01
Количество страниц оригинала: 19
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС МАШИНОСТРОЕНИЕ
Эта область включает стандарты общего назначения Обработка и покрытие поверхности
Включая процессы и оборудование для обработки и покрытия поверхности
Термическая обработка см. 25.200
Обработка и покрытие поверхности в авиационно-космической промышленности см. 49.040
Коррозия металлов см. 77.060
Лакокрасочные покрытия см. 87 Металлические покрытия
Включая электролитическое осаждение, катодные покрытия, автокаталитические покрытия и т.д.


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация