Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборов- DIN EN 60749-44-2017. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2017-04-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016
Код: DIN EN 60749-44-2017
Код МКС: 31.080.01
Количество страниц оригинала: 22
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые материалы см. 29.045 Полупроводниковые приборы в целом

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN EN 60749-37-2008 - Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра
DIN EN 60749-38-2008 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью
DIN EN 60749-39-2007 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 39. Измерение коэффициента диффузии влажности и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемах
DIN EN 60749-40-2012 - Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра
DIN EN 60749-42-2015 - Приборы полупроводниковые. Методы климатических и механических испытаний. Часть 42. Хранение при высокой температуре и влажности
DIN EN 60749-43-2018 - Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 43. Руководящие указания по планам оценки надежности интегральных схем