Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 21. Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных MEMS материалов- DIN EN 62047-21-2015. DIN

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2015-04-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poissons ratio of thin film MEMS materials (IEC 62047-21:2014); German version EN 62047-21:2014
Код: DIN EN 62047-21-2015
Код МКС: 31.080.01*31.220.01
Количество страниц оригинала: 16
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые материалы см. 29.045 Полупроводниковые приборы в целом

Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация

Другие коды стандарта DIN

DIN EN 62047-15-2016 - Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 15. Метод определения силы сцепления между PDMS и стеклом
DIN EN 62047-16-2015 - Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины
DIN EN 62047-17-2015 - Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок
DIN EN 62047-18-2014 - Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 18. Метод испытания на изгиб тонкопленочных материалов
DIN EN 62047-19-2014 - Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 19. Электронные компасы
DIN EN 62047-20-2015 - Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 20. Гироскопы