Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения кантилеверной балки и кривизны пластины - код din DIN EN 62047-16-2015.

Расшифровка стандарта

Дата публикации: 2015-12-01
Заглавие на английском языке: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods (IEC 62047-16:2015); German version EN 62047-16:2015
Код: DIN EN 62047-16-2015
Код МКС: 31.080.01*31.220.01
Количество страниц оригинала: 13
Вид требований: ST
Рубрикатор:
ОКС ЭЛЕКТРОНИКА Электромеханические компоненты электронного оборудования и телекоммуникационного оборудования Электромеханические компоненты в целом


Ссылка на официальную страницу:

Регистрация

Хотите купить товар?

Презентуйте ваш спрос на нашей бесплатной тендерной площадке

Опубликовать тендер

Хотите продать товар?

Найдите запрос на ваш товар среди тендеров, которые выставляют государственные и коммерческие структуры, маркетплэйсы и международные организации.
Подпишитесь на бесплатную рассылку.

Регистрация